Scanway i JPL NASA stworzą system termografii orbitalnej

Kamery będą wykorzystywać sensory JPL działające w średniofalowym (MWIR) oraz długofalowym (LWIR) zakresie podczerwieni, umożliwiając rozwój instrumentów zdolnych do prowadzenia obserwacji termograficznych z orbity. Nowa technologia będzie rozwijana w przyszłych projektach Spółki – Scanway prowadzi rozmowy z JPL dotyczące licencji na technologię sensorów do wykorzystania w kolejnych rozwiązaniach i projektach.

Pierwsza kamera opracowywana wspólnie przez Scanway i JPL zostanie wyniesiona na orbitę jako demonstrator technologii w ramach nowej klasy instrumentów optycznych rozwijanych dla klienta z rynku amerykańskiego. Projekt realizowany jest w ramach umowy podpisanej przez Spółkę w styczniu br. Umowa zakłada opracowanie nowego instrumentu integrującego kilka kamer pracujących w różnych zakresach fal, który zostanie wykorzystany w budowanej konstelacji satelitów obserwacji Ziemi.

Rozwiązanie termograficzne opracowywane przez JPL i Scanway poszerza portfolio produktowe Spółki oraz wzmacnia jej pozycję wśród producentów zaawansowanych ładunków optycznych. Nowy projekt wspiera również rozwój Scanway w obszarze usług opartych na danych satelitarnych o wysokiej wartości analitycznej, w tym modelu Data-as-a-Service.

Kooperację pomiędzy stronami inicjuje podpisany dokument Support Letter, potwierdzający możliwość współpracy i stanowiący pierwszy etap budowy strategicznej relacji technologicznej. Kolejnym etapem będzie podpisanie umowy o współpracy. Równolegle – w kontekście długoterminowych planów Spółki – strony prowadzą rozmowy o licencji dla Scanway na technologię sensorów JPL. Rozszerzenie współpracy pozwoli rozwijać kolejne rozwiązania i aplikacje oparte na tej technologii.

„Obserwacje termograficzne z orbity polegają na pomiarze promieniowania podczerwonego emitowanego przez obserwowane obiekty, co umożliwia określanie ich temperatury oraz identyfikację anomalii termicznych. Technologia ta znajduje zastosowanie m.in. w analizie procesów geologicznych i atmosferycznych, monitorowaniu środowiska oraz rozwiązaniach związanych z bezpieczeństwem i obronnością. Jest to zaawansowana technologia wymagająca wysokospecjalistycznych kompetencji, rozwijana i oferowana przez bardzo wąskie grono światowych producentów instrumentów optycznych” – tłumaczy Mikołaj Podgórski, COO Scanway S.A.

„Współpraca z JPL i NASA oraz rozwój nowych kamer podczerwieni pozwalają nam skokowo zwiększać kompetencje technologiczne Scanway dostarczając Klientom wartość, którą daje możliwość termografii z orbity. Dostęp do tego typu technologii wzmacnia nasze kompetencje w zakresie budowy własnych ogniw łańcucha dostaw oraz zwiększa niezależność technologiczną Spółki. Jednocześnie zyskujemy ekspozycję na nowy segment rynku, co wspiera dalszy rozwój Scanway w obszarze usług opartych na danych satelitarnych o wysokiej wartości analitycznej, w tym modelu Data as a Service” – mówi Jędrzej Kowalewski, Prezes Zarządu Scanway S.A.

Jak podkreśla Scanway w swoim komunikacie prasowym, rynek rozwiązań wykorzystujących obrazowanie w podczerwieni i termografię z orbity rośnie wraz z popytem na dane satelitarne o wysokiej wartości analitycznej. Według Growth Market Reports wartość globalnego rynku obserwacji Ziemi w podczerwieni wyniosła 1,97 mld USD w 2024 r. i ma wzrosnąć do 4,36 mld USD w 2033 r., przy średniorocznym tempie wzrostu na poziomie 9,3%.

Podobny trend pokazują dane DataIntelo, które szacuje wartość rynku satelitarnych systemów obrazowania termicznego na 4,8 mld USD w 2025 r. i prognozuje jego wzrost do 10,3 mld USD w 2034 r. Segment ten wpisuje się zarazem w szerszą ekspansję rynku obserwacji Ziemi. Według Novaspace globalny rynek EO osiągnął w 2024 r. wartość 5,4 mld USD, a w kolejnej dekadzie ma rosnąć średnio o 4,7% rocznie.

Źródło: Scanway